Publication Date:
2002
abstract:
Lo stand presentato al Salone espositivo ha riguardato gli strumenti portatili per indagini non distruttive XRF e PIXE e i risultati ottenuti nel settore dei Beni Culutrali nell'ambito della collaborazione tra l'IBAM/CNR e i LNS/INFN di Catania.
Iris type:
05.06 Mostra
Keywords:
XRF e PIXE-alfa; spettrometri; portatili; non distruttivi; archeometria
List of contributors: