Data di Pubblicazione:
2002
Abstract:
Lo stand presentato al Salone espositivo ha riguardato gli strumenti portatili per indagini non distruttive XRF e PIXE e i risultati ottenuti nel settore dei Beni Culutrali nell'ambito della collaborazione tra l'IBAM/CNR e i LNS/INFN di Catania.
Tipologia CRIS:
05.06 Mostra
Keywords:
XRF e PIXE-alfa; spettrometri; portatili; non distruttivi; archeometria
Elenco autori:
Garraffo, Salvatore; Pappalardo, Lighea; Romano, FRANCESCO PAOLO
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