Experimental study of data retention in nitride memories by temperature and field acceleration

Articolo
Data di Pubblicazione:
2007
Tipologia CRIS:
01.01 Articolo in rivista
Elenco autori:
Link alla scheda completa:
https://iris.cnr.it/handle/20.500.14243/42160
Pubblicato in:
IEEE ELECTRON DEVICE LETTERS (PRINT)
Journal