Nanoscale reliability aspects of insulator onto wide band gap compounds

Contributo in Atti di convegno
Data di Pubblicazione:
2014
Abstract:
[object Object]
Tipologia CRIS:
04.01 Contributo in Atti di convegno
Keywords:
Conductive Atomic Force Microscopy; GaN; Scanning Capacitance Microscopy; Scanning Probe Microscopy; SiC
Elenco autori:
Autori di Ateneo:
Link alla scheda completa:
https://iris.cnr.it/handle/20.500.14243/287364
Titolo del libro:
Proc. of 9th IEEE Nanotechnology Materials and Devices Conference (IEEE-NMDC)