Study of Built-in Strain in Porous Silicon by Raman Scattering Measurments

Contributo in Atti di convegno
Data di Pubblicazione:
2008
Tipologia CRIS:
04.01 Contributo in Atti di convegno
Elenco autori:
Autori di Ateneo:
Link alla scheda completa:
https://iris.cnr.it/handle/20.500.14243/237167
Titolo del libro:
Proceedings of 6th Internation conference on Porous Semiconductor Science and Technology,