TEM and X-ray diffraction studies of III-V lattice mismatched multilayers and superlattices

Contributo in Atti di convegno
Data di Pubblicazione:
1995
Tipologia CRIS:
04.01 Contributo in Atti di convegno
Elenco autori:
Autori di Ateneo:
Link alla scheda completa:
https://iris.cnr.it/handle/20.500.14243/205045
Titolo del libro:
Microscopy of Semiconducting Materials
Pubblicato in:
INSTITUTE OF PHYSICS CONFERENCE SERIES
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