Structural analysis and depth profiling of nanometric SiO2/SRO multilayers

Articolo
Data di Pubblicazione:
2013
Tipologia CRIS:
01.01 Articolo in rivista
Keywords:
SILICON NANOCRYSTALS
Elenco autori:
Autori di Ateneo:
Link alla scheda completa:
https://iris.cnr.it/handle/20.500.14243/184874
Pubblicato in:
SIA. SURFACE AND INTERFACE ANALYSIS
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