High resolution x-ray diffraction and transmission electron microscopy investigation on As and P incorporation in MOCVD and CBE grown In(GaAs)P/InP 'false' multi quantum wells

Contributo in Atti di convegno
Data di Pubblicazione:
1993
Tipologia CRIS:
04.01 Contributo in Atti di convegno
Elenco autori:
Link alla scheda completa:
https://iris.cnr.it/handle/20.500.14243/120962
Titolo del libro:
Vth IPRM Proceedings