Analysis of dislocations and associated impurity atmospheres in bulk GaAs by means of SEM-EBIC measurements and DSL photoetching
Abstract
Data di Pubblicazione:
1988
Tipologia CRIS:
04.02 Abstract in Atti di convegno
Keywords:
GaAs; LEC; dislocations; EBIC; photoetching
Elenco autori:
Frigeri, Cesare
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