Al+ Implanted 4H-SiC p+-i-n Diodes: Evidence for Post-Implantation- Annealing Dependent Defect Activation

Poster
Data di Pubblicazione:
2013
Tipologia CRIS:
04.03 Poster in Atti di convegno
Elenco autori:
Autori di Ateneo:
Link alla scheda completa:
https://iris.cnr.it/handle/20.500.14243/286232