Instability in a-Si:H Thin-Film Transistors: A New Method to Discriminate Between Charge Injection and Defect Creation

Contributo in Atti di convegno
Data di Pubblicazione:
1992
Tipologia CRIS:
04.01 Contributo in Atti di convegno
Elenco autori:
Autori di Ateneo:
Link alla scheda completa:
https://iris.cnr.it/handle/20.500.14243/3812
Pubblicato in:
MRS PROCEEDINGS
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