Structural and electronic characterization of (2,3(3)) bar-shaped stacking fault in 4H-SiC epitaxial layers
Articolo
Data di Pubblicazione:
2011
Tipologia CRIS:
01.01 Articolo in rivista
Elenco autori:
Camarda, Massimo; Canino, Andrea; LA MAGNA, Antonino; LA VIA, Francesco
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