Microscopia a forza atomica applicata ai materiali polimerici

In questo articolo sono descritti i principi della microscopia a forza atomica (AFM), tecnica microscopica ad elevata risoluzione. L'AFM è basata sulle interazioni atomiche tra sensore e campione, la cui forza è misurata dalla deflessione di un asse. I dati vengono convertiti in immagini topografiche del campione. Sono riportati alcuni esempi sulle potenzialità dell'AFM nei riguardi di morfologia, nanostruttura e ordine molecolare dei polimeri. In questa rassegna vengono illustrati i principi di base di questa tecnica ed i relativi pregi e difetti.