A model for TID effects on floating gate memory cells

Articolo

Data di Pubblicazione:

2004

Abstract:

[object Object]

Tipologia CRIS:

01.01 Articolo in rivista

Keywords:

Floating gate (FG) memory arrays; Gamma rays; Irradiation; Single event effects (SEE); Total ionizing dose (TID); X-rays

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Pubblicato in:

Journal