GeO2-doped SiO2 thin films deposited by RF sputtering: morphology and optical properties

Articolo

Data di Pubblicazione:

2004

Tipologia CRIS:

01.01 Articolo in rivista

Elenco autori:

Quartarone, Eliana; Mustarelli, Piercarlo

Link alla scheda completa:

https://iris.cnr.it/handle/20.500.14243/21838