Study of the dislocation atmospheres in n-type GaAs by DSL photoetching, EBIC and microRaman measurements
Abstract
Data di Pubblicazione:
1995
Tipologia CRIS:
04.02 Abstract in Atti di convegno
Keywords:
GaAs; shallow donors; EBIC; microRaman; dislocations
Elenco autori:
Frigeri, Cesare
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Titolo del libro:
Abstract book