Improving floating-gate memory reliability by nanocrystal storage and pulsed tunnel programming

Articolo
Data di Pubblicazione:
2004
Tipologia CRIS:
01.01 Articolo in rivista
Elenco autori:
Link alla scheda completa:
https://iris.cnr.it/handle/20.500.14243/21002
Pubblicato in:
IEEE TRANSACTIONS ON DEVICE AND MATERIALS RELIABILITY
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