Study of microloops and associated particles in Si-doped HB GaAs by TEM, DSL photoetching and Laser Scattering Tomography
Contributo in Atti di convegno
Data di Pubblicazione:
1991
Tipologia CRIS:
04.01 Contributo in Atti di convegno
Keywords:
GaAs; HB; microdefects; TEM; photoetching
Elenco autori:
Frigeri, Cesare
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Titolo del libro:
Crystal Properties and Preparation, Part 2
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