Correlation between an optical plasma diagnostic (OES) and surface plasma diagnostics (AFM and FTIR), to monitoring of thin films growth

Contributo in Atti di convegno
Data di Pubblicazione:
2002
Tipologia CRIS:
04.01 Contributo in Atti di convegno
Elenco autori:
Autori di Ateneo:
Link alla scheda completa:
https://iris.cnr.it/handle/20.500.14243/137304