Corrigendum to "Evidence for in-plane tetragonal c-axis in MnxGa1-x thin films using transmission electron microscopy" [Scr. Mater. 114 (2016) 165-169]

Articolo
Data di Pubblicazione:
2016
Abstract:
The authors regret a typo on page 166 of the paper; the anisotropy (K1) values are in the range of 7-9 × 105 J/m3.
Tipologia CRIS:
01.01 Articolo in rivista
Keywords:
Atomic force microscopy; Hard magnetic materials; Sputtering; Transmission electron microscopy (TEM)
Elenco autori:
Autori di Ateneo:
Link alla scheda completa:
https://iris.cnr.it/handle/20.500.14243/368673
Pubblicato in:
SCRIPTA MATERIALIA
Journal