Data di Pubblicazione:
2006
Abstract:
Il capitolo è dedicato alle tecniche cosiddette di whole Profile Fitting che si applicano a dati sperimentali da raggi X raccolti su polveri microcristalline. E' parte di un volume che raccoglie una serie di capitoli in cui sono trattati gli aspetti fondamentali, strumentali, metodologici e computazioni delle tecniche di diffrazione per materiali policristallini, fino alle applicazioni più avanzate.
Tipologia CRIS:
02.01 Contributo in volume (Capitolo o Saggio)
Keywords:
Diffrazione; materiali policristallini
Elenco autori:
Guagliardi, Antonietta
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Titolo del libro:
Analisi di Materiali Policristallini Mediante Tecniche di Diffrazione