Summary Abstract: Structural analysis of ultrathin epitaxial Ge/Si films on Si(100)

Abstract

Data di Pubblicazione:

1987

Tipologia CRIS:

01.05 Abstract in rivista

Elenco autori:

Davidson, BRUCE ANDREW

Autori di Ateneo:

DAVIDSON BRUCE ANDREW

Link alla scheda completa:

https://iris.cnr.it/handle/20.500.14243/19116

Dati Generali

URL

http://scitation.aip.org/content/avs/journal/jvstb/5/4/10.1116/1.583744