X-Ray study of GaAs/Ge heterostructures: Relationship between interfacial defects and growth processes
Abstract
Data di Pubblicazione:
1996
Tipologia CRIS:
04.02 Abstract in Atti di convegno
Keywords:
GaAs/Ge; planar defects; MOVPE growth; X-ray
Elenco autori:
Frigeri, Cesare; Pelosi, Claudio
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Titolo del libro:
Abstract book