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  1. Pubblicazioni

Relationship between interfacial defects and growth processes in GaAs/Ge heterostructures

Abstract
Data di Pubblicazione:
1996
Tipologia CRIS:
04.02 Abstract in Atti di convegno
Keywords:
GaAs/Ge; planar defects; TEM; MOVPE; X-ray
Elenco autori:
Frigeri, Cesare; Pelosi, Claudio
Link alla scheda completa:
https://iris.cnr.it/handle/20.500.14243/134450
Titolo del libro:
Abstract book
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