Misure assolute XRF di elementi in traccia e studio della provenienza di manufatti in ossidiana

Viene presentata una nuova versione del sistema XRD portatile operante presso il laboratorio LANDIS dei LNS/INFN di Catania. Le modifiche apportate hanno consentito di Il sistema è stato ottenuto sostituendo la sorgente X di eccitazione e il rivelatore presenti in un diffrattometro commerciale a geometria theta-theta. La nuova rosgente X impiegata consiste di un tubo microfocus a bassa ponetnza accoppiato con una guida policapillare a raggi parallelizzanti. Il rivelatore è stato infine sostitutito con un Si-PIN Misure preliminari effettuate su campioni standards hanno consentito di verificare che l'aggiornamento del sistema ha prodotto un incremento delle prestazioni di un fattore 6-7 circa. Il sistema XRD nella nuova configurazione è stato infine impiegato per la caratterizzazione di alcuni frammenti di affresco di epoca romana. Vengono presentati e discussi i risultati delle misure.