Electron and ion beam analysis of composition and strain in Si-x Ge x/Si heterostructures

Articolo
Data di Pubblicazione:
1994
Tipologia CRIS:
01.01 Articolo in rivista
Keywords:
SILICON-GERMANIUM ALLOYS; COMPOSITION DETERMINATION; LATTICE STRAIN DETERMINATION; CONVERGENT BEAM ELECTRON DIFFRACTION; ION BEAM ANALYSIS
Elenco autori:
Autori di Ateneo:
Link alla scheda completa:
https://iris.cnr.it/handle/20.500.14243/17869
Pubblicato in:
MIKROCHIMICA ACTA (1966, PRINT)
Journal