Analisi microchimica mediante SPEM di una superlega di nichel dopo prove di creep

Lo scopo di questo lavoro è mostrare le potenzialità delle analisi micro-chimiche di superficie, in particolare la spettroscopia Scanning PhotoEmission Microscopy (SPEM) ad alta risoluzione, nello studio dei fenomeni diffusivi che hanno luogo fra le fasi g e g' nelle superleghe di Ni a seguito del creep. Si riportano le analisi condotte su una superlega monocristallina, CM186LC, prima e dopo prove di creep alle temperature di 800 e 900 °C. Le misure di fotoemissione ai raggi X (XPS) ad elevata risoluzione spaziale sono state effettuate presso la beam-line ESCA-microscopy del sincrotrone Elettra di Trieste, in cui è stato utilizzato lo SPEM, che opera in modalità sia di immagine che di spettroscopia puntuale, producendo una microsonda a raggi X di diametro inferiore a 50 nm. L'alta risoluzione permette di esaminare separatamente la composizione chimica della fase rinforzante g' e della matrice g caratterizzanti la superlega. In questo modo è possibile studiare la partizione degli elementi di lega tra le fasi nel materiale vergine e la sua evoluzione dopo le prove di creep.