Roughness and interface diffusion of SnO2 thin films: a structural characterisation

Contributo in Atti di convegno
Data di Pubblicazione:
2001
Tipologia CRIS:
04.01 Contributo in Atti di convegno
Elenco autori:
Autori di Ateneo:
Link alla scheda completa:
https://iris.cnr.it/handle/20.500.14243/129058
Titolo del libro:
Proceedings del I Convegno "Tecnologia ed Economia nei Processi Innovativi delle Superfici - TEPIS 1"