Microstructure of Si layers grown on GaAs(001) under an excess As or Al flux
Contributo in Atti di convegno
Data di Pubblicazione:
1999
Tipologia CRIS:
04.01 Contributo in Atti di convegno
Elenco autori:
Carlino, Elvio
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Titolo del libro:
Proceedings 4th Multinational Congress on Electron Microscopy