Determination of bulk mismatch values in trasmission electron microscopy cross-sections of heteostructures by convergent-beam electron diffraction
Articolo
Data di Pubblicazione:
1998
Tipologia CRIS:
01.01 Articolo in rivista
Keywords:
RELAXATION; SI1-XGEX; SILICON; STRAIN; GROWTH
Elenco autori:
Balboni, Roberto
Link alla scheda completa:
Pubblicato in: