Roughness and interface diffusion of SnO2 thin films probed by X-Ray Reflectivity and Atomic Force Microscopy

Contributo in Atti di convegno
Data di Pubblicazione:
2000
Tipologia CRIS:
04.01 Contributo in Atti di convegno
Elenco autori:
Autori di Ateneo:
Link alla scheda completa:
https://iris.cnr.it/handle/20.500.14243/127782
Titolo del libro:
SYNTHESES AND METHODOLOGIES IN INORGANIC CHEMISTRY - New Compounds and Materials