Atomic forcemicroscopy characterization of sputtered vanadium oxide thin films grown on Al2O3 substrate

Articolo
Data di Pubblicazione:
1998
Abstract:
Atomic forcemicroscopy characterization of sputtered vanadium oxide thin films grown on Al2O3 substrate
Tipologia CRIS:
01.01 Articolo in rivista
Keywords:
afm; sensor
Elenco autori:
Autori di Ateneo:
Link alla scheda completa:
https://iris.cnr.it/handle/20.500.14243/310865
Pubblicato in:
APPLIED PHYSICS. A, MATERIALS SCIENCE & PROCESSING
Journal