Analisi non distruttiva di un minerale di berillio mediante il sistema PIXE-alfa, XRF e microfascio X del LANDIS

Vengono presentati e discussi i risultati di misure PIXE, XRF e micro-XRF non distruttive effettuate su un minerale di berillio con strumentazione portatile. I dati, nel loro complesso, mostrano come sia possibile pervenire ad una caratterizzazione del minerale utile per la individuazione delle miniere di provenienza. I sistemi di analisi sono stati realizzati presso il laboratorio LANDIS-INFN di Catania.