Quantitative high-resolution two-dimensional profiling of sic by scanning capacitance microscopy
Articolo
Data di Pubblicazione:
2002
Tipologia CRIS:
01.01 Articolo in rivista
Elenco autori:
Raineri, Vito; Roccaforte, Fabrizio; Giannazzo, Filippo; LA VIA, Francesco
Link alla scheda completa:
Pubblicato in: