Determination of chemical gradients in AlxIn1-xAs/InP lattice matched heterostructures by transmission electron microscopy and high resolution x-ray diffraction

Contributo in Atti di convegno
Data di Pubblicazione:
1993
Tipologia CRIS:
04.01 Contributo in Atti di convegno
Elenco autori:
Autori di Ateneo:
Link alla scheda completa:
https://iris.cnr.it/handle/20.500.14243/175821
Titolo del libro:
Proceedings of Multinational Congress on Electron Microscopy