Mechanisms of breakdown in semi-insulating GaAs detectors under high reverse bias conditions studied by EBIC and OBIC
Contributo in Atti di convegno
Data di Pubblicazione:
1997
Tipologia CRIS:
04.01 Contributo in Atti di convegno
Elenco autori:
Reggiani, Lino; Pennetta, Cecilia; DE VITTORIO, Massimo; Cola, Adriano; Mazzer, Massimo
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Titolo del libro:
Microscopy of Semiconducting Materials 1997
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