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  1. Outputs

Sistema di scansione laser per caratterizzazione a bassa temperatura dispositivi elettro-ottici

Other Research Product
Publication Date:
2002
abstract:
Microscopio laser a scansione a bassa temperatura (LTLSM). Lo strumento permette di indirizzare stimoli ottici, di durata da 1 ns in su e lunghezza d'onda da 670 a 1550 nm, su dispositivi mantenuti a temperatura da 2 a 300 K. Un sistema motorizzato di scansione permette di indirizzare lo spot ottico (di diametro inferiore a 10 micrometri) sulla superficie da analizzare (10x10 mm) con una risoluzione di 5 micrometri. La presenza di una videocamera coassiale con il fascio laser permette di visualizzare con elevata risoluzione la superficie irraggiata. Connessioni elettriche a larga banda (1GHz) tra la parte criogenica e l'elettronica di lettura esterna permettono di studiare la fotorisposta veloce dei dispositivi studiati.
Iris type:
05.12 Altro
Keywords:
laser; superconduttori; semiconduttori; bassa temperatura; sensori ottici
List of contributors:
Pagano, Sergio
Handle:
https://iris.cnr.it/handle/20.500.14243/194683
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