Instability in a-Si:H/a-SiO2 Thin-Film Transistors: Evidences for a predominant effect of charge trapping into the gate insulator
Articolo
Data di Pubblicazione:
1992
Tipologia CRIS:
01.01 Articolo in rivista
Elenco autori:
Mariucci, Luigi; Pecora, Alessandro; Fortunato, Guglielmo; Priori, Sandro
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