EBIC study of extended defects in InGaAs/InGaAs strain-balanced MQWs for thermophotovoltaic applications
Contributo in Atti di convegno
Data di Pubblicazione:
2003
Tipologia CRIS:
04.01 Contributo in Atti di convegno
Elenco autori:
Lazzarini, Laura; Mazzer, Massimo; Nasi, Lucia; Salviati, Giancarlo
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Titolo del libro:
Microscopy of Semiconducting Materials 2003