A study of nanocrystallinity in nc-Si, nc-Si.C, and nc-Si:Ge films deposited by PECVD
Contributo in Atti di convegno
Data di Pubblicazione:
2005
Tipologia CRIS:
04.01 Contributo in Atti di convegno
Elenco autori:
Capezzuto, Pio; Losurdo, Maria; Bruno, Giovanni; Sacchetti, Alberto
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