Correlation between current transport and defects in n+/p 6H-SiC diodes

Poster
Data di Pubblicazione:
2005
Tipologia CRIS:
04.03 Poster in Atti di convegno
Keywords:
wide band gap semiconductors; 6H-SiC; ion implanted diodes; defects
Elenco autori:
Autori di Ateneo:
Link alla scheda completa:
https://iris.cnr.it/handle/20.500.14243/86692