Characterization of MOS capacitors fabricated on n-type 4H-SiC

Poster

Data di Pubblicazione:

2006

Tipologia CRIS:

04.03 Poster in Atti di convegno

Keywords:

4H-SiC; n-MOS; interface trap; N implantation

Elenco autori:

Moscatelli, Francesco; Poggi, Antonella; Tamarri, Fabrizio; Sanmartin, Michele; Nipoti, Roberta; Solmi, Sandro

Autori di Ateneo:

MOSCATELLI FRANCESCO

POGGI ANTONELLA

SANMARTIN MICHELE

TAMARRI FABRIZIO

Link alla scheda completa:

https://iris.cnr.it/handle/20.500.14243/86690