Effects of a post-oxidation annealing in nitrous oxide on the morphological and electrical properties of SiO2/4H-SiC interfaces
Articolo
Data di Pubblicazione:
2013
Tipologia CRIS:
01.01 Articolo in rivista
Elenco autori:
Roccaforte, Fabrizio; Giannazzo, Filippo; Fiorenza, Patrick
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