Strain analysis in submicron electron devices by convergent beam electron diffraction

Contributo in Atti di convegno
Data di Pubblicazione:
2002
Tipologia CRIS:
04.01 Contributo in Atti di convegno
Elenco autori:
Autori di Ateneo:
Link alla scheda completa:
https://iris.cnr.it/handle/20.500.14243/210616
Titolo del libro:
NANOSCALE SPECTROSCOPY AND ITS APPLICATIONS TO SEMICONDUCTOR RESEARCH
Pubblicato in:
LECTURE NOTES IN PHYSICS
Series