Dislocation density and structure in Si1-xGex buffer layers deposited by LEPECVD

Contributo in Atti di convegno

Data di Pubblicazione:

2003

Tipologia CRIS:

04.01 Contributo in Atti di convegno

Elenco autori:

Autori di Ateneo:

BOLLANI MONICA

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Titolo del libro:

Microscopy of semiconducting materials 2003

Pubblicato in:

Series