EFFECTS OF SILICON ION-BEAM MIXING ON P+/N DIODES - DLTS ANALYSES OF THE INDUCED DEFECTS

Articolo
Data di Pubblicazione:
1990
Tipologia CRIS:
01.01 Articolo in rivista
Elenco autori:
Autori di Ateneo:
Link alla scheda completa:
https://iris.cnr.it/handle/20.500.14243/237106
Pubblicato in:
PHYSICA STATUS SOLIDI. A, APPLIED RESEARCH
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