SIMS AND X-RAY-DIFFRACTION CHARACTERIZATION OF CARBON-DOPED GAAS, ALXGA1-XAS FILMS GROWN BY MBE

Articolo
Data di Pubblicazione:
1994
Tipologia CRIS:
01.01 Articolo in rivista
Elenco autori:
Link alla scheda completa:
https://iris.cnr.it/handle/20.500.14243/286741
Pubblicato in:
SIA. SURFACE AND INTERFACE ANALYSIS
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