Structural and electrical characterization of silicided Ni/Au contacts formed at low temperature (<300°C) on p-type [001] silicon

Articolo

Data di Pubblicazione:

2011

Abstract:

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Tipologia CRIS:

01.01 Articolo in rivista

Elenco autori:

Autori di Ateneo:

ALBERTI ALESSANDRA

PELLEGRINO GIOVANNA

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Pubblicato in:

Journal

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