Quantitative X-ray microanalysis of thin NiO films by Monte Carlo and Cliff-Lorimer methods

Articolo

Data di Pubblicazione:

2014

Tipologia CRIS:

01.01 Articolo in rivista

Keywords:

analytical electron microscopy; Monte Carlo simulation; nickel-oxide films; bilayers; FIB-thinned wedge lamella; extrapolation method; k-factors

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