Comprehensive investigation of statistical effects in nitride memories - Part II: Scaling analysis and impact on device performance

Articolo
Data di Pubblicazione:
2010
Tipologia CRIS:
01.01 Articolo in rivista
Elenco autori:
Link alla scheda completa:
https://iris.cnr.it/handle/20.500.14243/37049
Pubblicato in:
IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES
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